Composition Analysis of III-Nitrides at the Nanometer Scale: Comparison of Energy Dispersive X-ray Spectroscopy and Atom Probe Tomography
about
Composition Analysis of III-Nitrides at the Nanometer Scale: Comparison of Energy Dispersive X-ray Spectroscopy and Atom Probe Tomography
description
2016 nî lūn-bûn
@nan
2016 թուականի Դեկտեմբերին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2016 թվականի դեկտեմբերին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2016年の論文
@ja
2016年論文
@yue
2016年論文
@zh-hant
2016年論文
@zh-hk
2016年論文
@zh-mo
2016年論文
@zh-tw
2016年论文
@wuu
name
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@ast
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@en
type
label
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@ast
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@en
prefLabel
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@ast
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@en
P2093
P2860
P50
P3181
P1476
Composition Analysis of III-Ni ...... copy and Atom Probe Tomography
@en
P2093
Adeline Grenier
Catherine Bougerol
Lynda Amichi
Mark Beeler
Nicolas Mollard
Pierre-Henri Jouneau
P2860
P2888
P3181
P356
10.1186/S11671-016-1668-2
P407
P577
2016-12-01T00:00:00Z
P6179
1049698628