about
Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope.Quartz tuning fork based microwave impedance microscopy.In situ analytical techniques for battery interface analysis.Direct mapping of the electric permittivity of heterogeneous non-planar thin films at gigahertz frequencies by scanning microwave microscopy.Nanoscale electrical conductivity imaging using a nitrogen-vacancy center in diamond.Nanoscale microwave microscopy using shielded cantilever probes
P2860
description
2009 nî lūn-bûn
@nan
2009 թուականի Ապրիլին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2009 թվականի ապրիլին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2009年の論文
@ja
2009年論文
@yue
2009年論文
@zh-hant
2009年論文
@zh-hk
2009年論文
@zh-mo
2009年論文
@zh-tw
2009年论文
@wuu
name
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@ast
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@en
type
label
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@ast
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@en
prefLabel
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@ast
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@en
P2093
P2860
P356
P1476
Tapping mode microwave impedance microscopy.
@en
P2093
P2860
P304
P356
10.1063/1.3123406
P407
P577
2009-04-01T00:00:00Z