Voltage-induced Interface Reconstruction and Electrical Instability of the Ferromagnet-Semiconductor Device.
about
Voltage-induced Interface Reconstruction and Electrical Instability of the Ferromagnet-Semiconductor Device.
description
2017 nî lūn-bûn
@nan
2017 թուականի Մարտին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2017 թվականի մարտին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2017年の論文
@ja
2017年論文
@yue
2017年論文
@zh-hant
2017年論文
@zh-hk
2017年論文
@zh-mo
2017年論文
@zh-tw
2017年论文
@wuu
name
Voltage-induced Interface Reco ...... romagnet-Semiconductor Device.
@ast
Voltage-induced Interface Reco ...... romagnet-Semiconductor Device.
@en
type
label
Voltage-induced Interface Reco ...... romagnet-Semiconductor Device.
@ast
Voltage-induced Interface Reco ...... romagnet-Semiconductor Device.
@en
prefLabel
Voltage-induced Interface Reco ...... romagnet-Semiconductor Device.
@ast
Voltage-induced Interface Reco ...... romagnet-Semiconductor Device.
@en
P2093
P2860
P1433
P1476
Voltage-induced Interface Reco ...... rromagnet-Semiconductor Device
@en
P2093
Liang-Chun Chang
Po-Chun Chang
Shang-Fan Lee
Shao-Hua Lo
Shu-Jui Chang
Yuan-Chieh Tseng
P2860
P2888
P356
10.1038/S41598-017-00547-4
P407
P50
P577
2017-03-23T00:00:00Z
P6179
1084130676