Electric force microscopy of semiconductors: theory of cantilever frequency fluctuations and noncontact friction.
about
Electric force microscopy of semiconductors: theory of cantilever frequency fluctuations and noncontact friction.
description
2013 nî lūn-bûn
@nan
2013 թուականի Նոյեմբերին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2013 թվականի նոյեմբերին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2013年の論文
@ja
2013年論文
@yue
2013年論文
@zh-hant
2013年論文
@zh-hk
2013年論文
@zh-mo
2013年論文
@zh-tw
2013年论文
@wuu
name
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@ast
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@en
type
label
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@ast
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@en
prefLabel
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@ast
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@en
P2093
P2860
P356
P1476
Electric force microscopy of s ...... tions and noncontact friction.
@en
P2093
John A Marohn
Roger F Loring
Swapna Lekkala
P2860
P304
P356
10.1063/1.4828862
P407
P577
2013-11-01T00:00:00Z