about
description
2017 nî lūn-bûn
@nan
2017年の論文
@ja
2017年論文
@yue
2017年論文
@zh-hant
2017年論文
@zh-hk
2017年論文
@zh-mo
2017年論文
@zh-tw
2017年论文
@wuu
2017年论文
@zh
2017年论文
@zh-cn
name
Test expectancy and memory for important information.
@en
type
label
Test expectancy and memory for important information.
@en
prefLabel
Test expectancy and memory for important information.
@en
P2860
P356
P1476
Test expectancy and memory for important information.
@en
P2093
Alan D Castel
Catherine D Middlebrooks
P2860
P304
P356
10.1037/XLM0000360
P50
P577
2017-01-16T00:00:00Z