Spot profile analysis and lifetime mapping in ultrafast electron diffraction: Lattice excitation of self-organized Ge nanostructures on Si(001).
about
Spot profile analysis and lifetime mapping in ultrafast electron diffraction: Lattice excitation of self-organized Ge nanostructures on Si(001).
description
2015 nî lūn-bûn
@nan
2015 թուականի Մայիսին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2015 թվականի մայիսին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2015年の論文
@ja
2015年論文
@yue
2015年論文
@zh-hant
2015年論文
@zh-hk
2015年論文
@zh-mo
2015年論文
@zh-tw
2015年论文
@wuu
name
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@ast
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@en
type
label
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@ast
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@en
prefLabel
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@ast
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@en
P2093
P2860
P356
P1476
Spot profile analysis and life ...... Ge nanostructures on Si(001).
@en
P2093
M Horn-von Hoegen
V Tinnemann
P2860
P304
P356
10.1063/1.4922023
P577
2015-05-01T00:00:00Z