A new microscope optics for laser dark-field illumination applied to high precision two dimensional measurement of specimen displacement.
about
A new microscope optics for laser dark-field illumination applied to high precision two dimensional measurement of specimen displacement.
description
2008 nî lūn-bûn
@nan
2008 թուականի Փետրուարին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2008 թվականի փետրվարին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2008年の論文
@ja
2008年論文
@yue
2008年論文
@zh-hant
2008年論文
@zh-hk
2008年論文
@zh-mo
2008年論文
@zh-tw
2008年论文
@wuu
name
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@ast
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@en
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@nl
type
label
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@ast
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@en
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@nl
prefLabel
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@ast
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@en
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@nl
P2860
P356
P1476
A new microscope optics for la ...... ment of specimen displacement.
@en
P2093
Naoki Noda
P2860
P304
P356
10.1063/1.2839914
P407
P433
P577
2008-02-01T00:00:00Z