A study of enhanced ion formation from metal-semiconductor complexes in atmospheric pressure laser desorption/ionization mass spectrometry.
about
A study of enhanced ion formation from metal-semiconductor complexes in atmospheric pressure laser desorption/ionization mass spectrometry.
description
2016 nî lūn-bûn
@nan
2016 թուականի Նոյեմբերին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2016 թվականի նոյեմբերին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2016年の論文
@ja
2016年論文
@yue
2016年論文
@zh-hant
2016年論文
@zh-hk
2016年論文
@zh-mo
2016年論文
@zh-tw
2016年论文
@wuu
name
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@ast
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@en
type
label
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@ast
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@en
prefLabel
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@ast
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@en
P2093
P2860
P356
P1476
A study of enhanced ion format ...... /ionization mass spectrometry.
@en
P2093
Marcus Koch
Petra Herbeck-Engel
Yuliya E Silina
P2860
P356
10.1002/JMS.3898
P577
2016-11-18T00:00:00Z