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2017 nî lūn-bûn
@nan
2017年の論文
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@yue
2017年論文
@zh-hant
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2017年论文
@zh
2017年论文
@zh-cn
name
A dual memory theory of the testing effect.
@en
type
label
A dual memory theory of the testing effect.
@en
prefLabel
A dual memory theory of the testing effect.
@en
P2860
P1476
A dual memory theory of the testing effect.
@en
P2093
Steven C Pan
Timothy C Rickard
P2860
P2888
P356
10.3758/S13423-017-1298-4
P577
2017-06-05T00:00:00Z
P6179
1085876271