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2016 nî lūn-bûn
@nan
2016年の論文
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@yue
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2016年论文
@zh
2016年论文
@zh-cn
name
Test Reliability at the Individual Level.
@en
type
label
Test Reliability at the Individual Level.
@en
prefLabel
Test Reliability at the Individual Level.
@en
P2093
P2860
P1476
Test Reliability at the Individual Level.
@en
P2093
Cheryl L Sisk
John R Nesselroade
Kelly Klump
Monica K Erbacher
Pamela K Keel
S Alexandra Burt
Steven M Boker
P2860
P304
P356
10.1080/10705511.2016.1148605
P577
2016-04-07T00:00:00Z