Tomography experiment of an integrated circuit specimen using 3 MeV electrons in the transmission electron microscope.
about
Tomography experiment of an integrated circuit specimen using 3 MeV electrons in the transmission electron microscope.
description
2007 nî lūn-bûn
@nan
2007 թուականի Յունուարին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2007 թվականի հունվարին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2007年の論文
@ja
2007年論文
@yue
2007年論文
@zh-hant
2007年論文
@zh-hk
2007年論文
@zh-mo
2007年論文
@zh-tw
2007年论文
@wuu
name
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@ast
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@en
type
label
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@ast
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@en
prefLabel
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@ast
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@en
P2093
P2860
P356
P1476
Tomography experiment of an in ...... nsmission electron microscope.
@en
P2093
Akio Takaoka
Hai-Bo Zhang
Xiang-Liang Zhang
P2860
P304
P356
10.1063/1.2409864
P407
P577
2007-01-01T00:00:00Z