Note: direct measurement of the point-to-point resolution for microns-thick specimens in the ultrahigh-voltage electron microscope.
about
Note: direct measurement of the point-to-point resolution for microns-thick specimens in the ultrahigh-voltage electron microscope.
description
2011 nî lūn-bûn
@nan
2011 թուականի Յունիսին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2011 թվականի հունիսին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2011年の論文
@ja
2011年論文
@yue
2011年論文
@zh-hant
2011年論文
@zh-hk
2011年論文
@zh-mo
2011年論文
@zh-tw
2011年论文
@wuu
name
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@ast
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@en
type
label
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@ast
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@en
prefLabel
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@ast
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@en
P2093
P2860
P356
P1476
Note: direct measurement of th ...... h-voltage electron microscope.
@en
P2093
Akio Takaoka
Hai-Bo Zhang
Ryuji Nishi
P2860
P304
P356
10.1063/1.3597672
P407
P577
2011-06-01T00:00:00Z