Current-voltage characterization of individual as-grown nanowires using a scanning tunneling microscope
about
Current-voltage characterization of individual as-grown nanowires using a scanning tunneling microscope
description
2013 nî lūn-bûn
@nan
2013 թուականի Հոկտեմբերին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2013 թվականի հոտեմբերին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2013年の論文
@ja
2013年学术文章
@wuu
2013年学术文章
@zh-cn
2013年学术文章
@zh-hans
2013年学术文章
@zh-my
2013年学术文章
@zh-sg
2013年學術文章
@yue
name
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@ast
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@en
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@nl
type
label
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@ast
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@en
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@nl
prefLabel
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@ast
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@en
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@nl
P2093
P2860
P50
P356
P1433
P1476
Current-voltage characterizati ...... scanning tunneling microscope
@en
P2093
Alexander Fian
Anders Mikkelsen
Andreas Jönsson
David L J Engberg
James L Webb
Olof Persson
Rainer Timm
P2860
P304
P356
10.1021/NL402570U
P407
P577
2013-10-02T00:00:00Z