Note: Lateral force microscope calibration using multiple location pivot loading of rectangular cantilevers.
about
Note: Lateral force microscope calibration using multiple location pivot loading of rectangular cantilevers.
description
2010 nî lūn-bûn
@nan
2010 թուականի Փետրուարին հրատարակուած գիտական յօդուած
@hyw
2010 թվականի փետրվարին հրատարակված գիտական հոդված
@hy
2010年の論文
@ja
2010年学术文章
@wuu
2010年学术文章
@zh-cn
2010年学术文章
@zh-hans
2010年学术文章
@zh-my
2010年学术文章
@zh-sg
2010年學術文章
@yue
name
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@ast
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@en
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@nl
type
label
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@ast
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@en
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@nl
prefLabel
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@ast
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@en
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@nl
P2860
P356
P1476
Note: Lateral force microscope ...... ng of rectangular cantilevers.
@en
P2093
Mark G Reitsma
P2860
P304
P356
10.1063/1.3276709
P407
P577
2010-02-01T00:00:00Z